元器件可靠性问题即基本失效率的问题,这是一种随机性质的失效,与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平。在一定的应力水平下,元器件的失效率会大大下降。为剔除不符合使用要求的元器件,包括电参数不合格、密封性能不合格、外观不合格、稳定性差、早期失效等,应进行筛选试验,这是一种非破坏性试验。通过筛选可使元器件失效率降低1~2个数量级,当然筛选试验代价(时间与费用)很大,但综合维修、后勤保障、整架
首先是恰当地选用合适的元器件:①尽量选用硅半导体器件,少用或不用锗半导体器件。②多采用集成电路,减少分立器件的数目。③开关管选用MOSFET能简化驱动电路,减少损耗。④输出整流管尽量采用具有软恢复特性的二极管。⑤应选择金属封装、陶瓷封装、玻璃封装的器件。禁止选用塑料封装的器件。⑥集成电路必须是一类品或者是符合MIL-M-38510、MIL-S-19500标准B-1以上质量等级的军品。⑦设
